@article{oai:sakushin-u.repo.nii.ac.jp:00000648,
 author = {松本, 秀彦 and 諸冨, 隆 and Matsumoto, Hidehiko and Morotomi, Takashi},
 issue = {1},
 journal = {作大論集},
 month = {Mar},
 note = {要　約
健常成人においてADHD症状評価得点と中枢における反応抑制活動との関連性についてeventrelated
potentials（ERPs）のNOGO性N2成分の検討を行った。12名の健常成人を対象にADHD症状
尺度（WURS）を回答させ症状程度の高い群（HIGH群）と低い群（LOW群）とに分けた。
GO/NOGO課題においては、NOGO刺激に挟まれるGO刺激の提示連続数を０～５つとすることによ
って、反応実行と抑制のバイアスを操作した。GO刺激の連続数が少ない条件をSHORT条件、多い
条件をLONG条件とした。脳波は頭皮上26部位より記録し、刺激呈示を基準として加算平均処理を行
った。結果は、ADHD症状得点HIGH群は反応時間が全体に長く、FA率が低かった。また、NOGO
性N2成分の潜時はHIGH群よりもLOW群の方が長かった。このことから、HIGH群においては中枢で
の反応抑制活動の生起が遅れる可能性があること、また反応時間を遅くすることでNOGO刺激に対
する反応抑制を成功させようとする課題遂行方略をとっていることが推測された。},
 pages = {239--250},
 title = {健常成人におけるADHD症状尺度得点とGO/NOGO課題で惹起されるERPとの関連},
 year = {2011},
 yomi = {マツモト, ヒデヒコ and モロトミ, タカシ}
}